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愛德萬發表新款多功能/低成本高速記憶體測試系統

發布日期:2015/12/08 關鍵字:AdvantestUFSSSD

愛德萬測試(Advantest)近期發表專為高效能通用快閃儲存(UFS)元件與PCIe BGA固態硬碟(SSD)所設計的低成本測試解決方案--T5851系統,將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。

愛德萬測試執行董事山田弘益表示,低功耗行動電子產品的趨勢,帶動高階儲存解決方案的需求,由於這些儲存產品採用高速省電的序列介面與高效能儲存協定,記憶體IC製造商需要與過去不同等級的測試系統,不但要專為這類元件的系統層級測試製程所設計,還須兼具一般記憶體測試系統所擁有的可靠性、低成本、支援大量測試的能力,而新款產品可滿足這些要求。

新推出的測試系統分別提供量產機型與工程開發機型,讓使用者可隨需彈性運用於可靠性測試、品質檢驗測試、測試程式開發測試等用途,也能在搭載自動化元件分類機(如該公司的M6242分類機)的架構下,應用於量產環境。

此外,新產品經實證的測試架構,與旗下固態硬碟測試解決方案MPT3000產品系列一致,並採用與T5800系列產品相同的多功能平台與FutureSuite軟體,可讓使用者降低投資成本與建置風險。

愛德萬網址:www.advantest.com

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