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提升相位雜訊/頻譜分析效率 R&S新款高/低階儀器齊發

文‧邱倢芯 發布日期:2015/12/25 關鍵字:RF相位雜訊頻譜分析

羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz)近期推出新一代的相位雜訊測試儀FSWP,以及手持式頻譜分析儀FPH。前者提供使用者快速執行脈衝源量測與射頻(RF)元件殘留相位雜訊量測;後者則是針對有成本考量的客戶群所推出的手持式頻譜分析儀,其可透過軟體升級,從原本的2GHz升級到3GHz或是4GHz。

羅德史瓦茲應用支援工程部經理陳飛宇表示,新一代的FSWP量測速度較上一代更加快速。
羅德史瓦茲應用支援工程部經理陳飛宇表示,新一代的FSWP可用以分析訊號源(Signal Source)及壓控振盪器(VCO);該儀器可提供使用者靈敏且快速的相位雜訊量測,使用者可迅速量測脈衝源與射頻元件殘留的相位雜訊。

據了解,FSWP可涵蓋頻率範圍達50GHz,且提供高動態範圍。該相位雜訊測試儀配備低相位雜訊的本地振盪器,且搭配交互相關性(Cross-Correlation),使得過去複雜測試配置或原本無法被量測的訊號源,透過該儀器皆可快速量測。

因為FSWP純數位化訊號處理的特性,使用者只須透過按鈕及觸控螢幕,即可直覺化的操作該儀器。陳飛宇補充,新一代的FSWP量測速度快,相同的訊號源上一代的儀器可能須花上十幾個小時量測,而新FSWP則只需三分鐘即可測得;且此測試儀也適於雷達的應用。

另一方面,新一代的手持式頻譜分析儀FPH,與以往的頻譜分析儀比較起來,有更長的待機時間,且增加其電池的續航力,從原本的三至四小時,增加到八小時的工作時間,若使用者仍覺不敷使用,也可再搭配電池擴充。

據悉,該手持式頻譜分析儀具有中文使用介面,螢幕搭載觸控式介面,且可依照環境光源調整亮度,按鍵使用時會自動發亮,讓使用者在黑暗的工作環境中也可設定參數,操作更加方便。另外,該儀器還可外接網路線,在實驗室中做遠端控制連線。

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