USB Type-C連接器的特性之一是正反可插，這樣的特性使設計較為「麻煩」，例如必須了解兩面元件之間的交互作用等。此外，對於測試而言，最顯而易見的影響就是測試時間會拉長。
太克(Tektronix)技術經理黃芳川指出，基本上，USB 3.1 Gen 1的實體層測試時間約需2.5分鐘，USB 3.1 Gen 2約需10分鐘，兩者相加為12.5分鐘，正反皆需測試就需要25分鐘。Type-C規格雖然是以USB 3.1 Gen 2為主，但當中其實仍有USB 3.1 Gen 1規格，因此兩者皆需測試。
不僅如此，Type-C和HDMI、DisplayPort等高速傳輸介面的整合，也增加設計及測試的困擾。黃芳川進一步說明， Type-C的替代模式(Alt Mode)連結了多種高速傳輸介面，因此在測試設計中需多增一個控制器，才能在各種規格間切換。
測試時間的拉長，也就更突顯自動測試的必要性。因此，太克已推出DisplayPort Type-C發射器測試方案，支援USB 3.1規格下的替代模式之一。DisplayPort相容性測試的最大挑戰之一是測試時間極長，而此方案的全自動化程序能在不到6小時內完成全套DisplayPort Type-C相容性測試，較其他競爭產品需耗費16小時能節省不少時間。
據了解，此版本的關鍵特性之一是引入DPOJET量測軟體，有助於分析待測物特性和進行除錯。也就是說，如果在相容性測試期間發生測試失敗，使用者可進入DPOJET DisplayPort量測庫，深入瞭解波形壓到眼圖遮罩等問題，並查看預加重位準與電壓擺幅之間的關係測試，以執行進階分析。
整體而言，進入USB 3.1 Gen 2的10Gbit/s高速傳輸時代，發射端(Tx)及接收端(Rx)測試皆面臨更多及更新的挑戰。在發射端部分，業者必須確認自家生產的裝置是否符合過去三個世代的USB規格，以及確保該裝置能取得USB IF的認證，不會在相容性方面出現問題。而在接收端部分，重點就在於需進行抖動耐受度(Jitter Tolerance)及SSC測試。
為了協助客戶能夠熟悉相關Tx及Rx測試，太克在近幾個月頻繁舉辦研討會及訓練課程，此外，分布在太克內的多間測試實驗室也常見客戶帶著待測物前來取經，足見Type-C的熱絡。
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