PUF研究如火如荼展開  隨機晶片指紋安全性更超前

作者: Jan Provoost
2017 年 08 月 24 日
製造過程中的細微變化,會導致晶片與晶片之間存在細微差別。這是讓晶片設計師頭疼的一個問題,因為他們的工作是要確保晶片都能有相同的表現。但安全專家對此非常高興,他們可以利用晶片的變化缺陷給每個晶片蓋上獨一無二的指紋。
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