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愛德萬測試IC自動分類機具溫控測試

發布日期:2017/12/06 關鍵字:即時升級溫控行動電子裝置元件旋轉器自動ID測試

愛德萬測試(Advantest)近日推出M4171分類機,滿足客戶在元件特性驗證和試產良率攀升階段,對於高功耗IC溫度控制測試的需求,提供行動電子裝置市場最經濟實惠的選擇。此新款可移動、Single-site分類機能在工程實驗室中自動裝載和卸載元件,並設定溫控和做好元件分類,不需再仰賴人力手動處理,同時和傳統較大、較貴的量產規模分類機台一樣,具備主動式溫度控制(ATC)功能。

愛德萬測試總公司執行役員及Device Handling事業部部長後藤敏雄表示,藉此高性價比的自動分類機引進實驗室,可以協助客戶在既有基礎上提升系統利用率,進而大幅提高生產力。隨著此分類機誕生,該公司將在實驗室及小型工作桌等級的元件特性驗證機台的領域上,開拓新的商機。

該自動分類機具備自動元件分類、遠端操作,再加上涵蓋-45°C至125°C大範圍溫度控制的ATC功能,出,可以使用預設值或使用者自行定義的參數,執行包括多模式測試流程(例如單進多溫度測試Single Insertion Multiple Temperature)、自動測試、自動ID測試、輸出盤(Output Tray)二次測試與手動測試。

該自動分類機具備即時升級溫控(Tri-Temp Technology)能力,能在各種溫度下進行測試作業,充分提升測試效率。該系統採行元件表面直接接觸的測試方式,無論升溫或降溫皆可以快速切換,與手動式的溫度控制解決方案相較,其循環溫度測試效率大幅提升40%。

M4171分類機可與V93000、T2000測試機及其他測試平台相容。更多特色,包括二維碼讀取機台、元件旋轉器以及High Contact Force 的功能選項。M4171分類機的圖形使用者介面(GUI)提供直覺式設計,包括預先設定測試參數,使操作更加容易。

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