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愛德萬測試發表PCIe Gen 4 SSD全方位解決方案

發布日期:2018/08/10 關鍵字:PCIeSSDMPT300BIST

半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)發表針對PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)之開發、除錯與量產的完全整合測試解決方案,也已通過嚴謹測試的MPT3000平台,此平台系統亦獲PCIe Gen 3、SATA與SAS SSD製造大廠採用。MPT3000 PCIe Gen 4產品已經上市,並已開始出貨給客戶。

MPT3000平台現在能涵蓋PCIe Gen 4裝置的所有測試需求,包括運用MPT3000ES系統進行工程測試、運用MPT3000ENV系統進行可靠性驗證測試(RDT),以及運用MPT3000HVM系統進行生產測試,毋須耗時等待第三方PCIe Gen 4 SSD應用上市。

此外,藉由提供客戶從設計到製造的完整測試流程,新的解決方案將能大幅簡化過渡到下一世代裝置的進程,而且使用的是與愛德萬測試PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構與軟體。此全方位解決方案為SSD製造業者開拓出一條風險最低、速度最快的產品上市途徑。

愛德萬測試系統級測試副總Colin Ritchie表示,為了因應各式各樣的SSD協定與規格,該公司推出模組化MPT3000平台,並且在功能方面更上層樓,能協助客戶驗證和測試最新一代PCIe記憶體。該系統具備高度彈性,再加上tester-per-DUT架構和硬體加速特點,使其成為所有工程、量產和內建自我測試電路 (BIST)應用最理想的單一系統解決方案。
 

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