優化熱量管理/電感量測效率 VCSEL光脈衝測試精準到位
在半導體晶圓、陣列和晶片載體生產階段測試垂直共振腔面射型雷射(VCSEL)時，熱量管理是非常關鍵的要素。因此，測試時一般會使用脈衝式測試，以使功耗達到最小。然而，在對VCSEL或雷射二極體進行脈衝測試時，仍會存在多種錯誤來源，包括將高電流脈衝耦合到待測裝置(DUT)、光偵測器耦合、偵測器本身回應慢和準確度差等問題。本文介紹了與這些問題有關的解決方案，這些方案可縮短測試次數，提高結果準確度並降低廢品率。
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