克服導線能量耗損過高問題 OTA測試打開毫米波新頻段

作者: 陳妤瑄
2017 年 10 月 05 日
Massive MIMO與波束成形技術是最有機會在毫米波頻段大展鴻圖的兩項技術,但隨著頻段頻率逐步提升,測試導線能量耗損的問題卻也變得更加嚴重,這使得天線之間的訊號量測必須改採非接觸式的OTA測試,而OTA測試也進而成為無線通訊導入陣列天線不可或缺的基礎。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

搶進電子紙 軟性AMOLED/Ch-LCD異軍突起

2010 年 03 月 22 日

車聯網與無人駕駛紅不讓 精密光學元件廠搶先布局

2015 年 07 月 06 日

感測器/Small Cell解決方案紛出籠 車聯網/5G產業發展邁大步

2016 年 08 月 25 日

專訪AMD嵌入式解決方案業務發展總監Stephen Turnbull AMD新SoC搶市布局邊緣運算

2019 年 05 月 04 日

專訪賽靈思人工智慧與軟體業務市場總監羅霖 擴大開發者族群將成策略重心

2021 年 10 月 02 日

V2X供電充滿想像空間 意法積極布局雙向技術

2024 年 03 月 29 日
前一篇
Digi-Key提供Displaytech LCD顯示器模組
下一篇
英特爾推動產學合作 台灣AI發展添動能