善用多核處理器 平行測試效率大幅躍升

2015 年 10 月 15 日
電子產品功能愈來愈複雜,使得測試成本也不斷增加;為了讓製造商能兼顧儀器設備投資效益與產品測試速度,量測業者提出採用模組化架構、軟體為核心的新設計,藉此讓測試設備能利用多核心處理器與日俱增的運算效能,提高平行測試的效率。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

活用FPGA 智慧家電能源效率再升級

2009 年 02 月 11 日

發揮作業系統靈活彈性 可編程SoC擴大應用版圖

2009 年 02 月 17 日

顯示/聯網效能要求劇增 智慧電視晶片啟動多核競賽

2012 年 11 月 01 日

產品種類/應用範疇擴增 穿戴式電子商機全面引爆

2014 年 02 月 10 日

改善玻璃強度不足問題 OGS觸控滲透變形筆電

2014 年 02 月 20 日

結合歐拉方法與雅可比矩陣 衛星位置估測更精準(1)

2024 年 07 月 17 日
前一篇
瞄準IoT/穿戴 Imagination祭出完整通訊IP授權方案
下一篇
TI閘極驅動器實現更高功率密度