奈米製程步步為營

善用Y係數/冷雜訊量測 ATE有效降低RF量產測試成本

2008 年 09 月 01 日
測試射頻到基頻架構的雜訊指數已是射頻元件量產測試必經的步驟,為縮短測試時間和降低測試成本,必須在自動化測試設備中導入冷雜訊,或使用具任意波形產生能力雜訊源的Y係數方法來進行測試。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

從磊晶與製程下手 UV LED追求更高發光效率

2005 年 04 月 29 日

導入複合記憶體架構 嵌入式顯示器效能更上層樓

2012 年 08 月 30 日

基板/封裝技術突破 軟性AMOLED量產加速

2013 年 11 月 17 日

考量頻譜/通訊距離/網路拓撲特性 無線技術選擇抓緊三重點

2022 年 03 月 12 日

新型鋰電池高度整合 電池監控系統安全/精準/高效

2020 年 10 月 15 日

單視角2D影像深度資訊不漏接 平面影像重建3D立體視覺(2)

2023 年 10 月 16 日
前一篇
AnalogicTech高電流WLED閃光驅動器取代氙燈方案
下一篇
R&S提供經濟型EMC認證解決方案