太克(Tektronix)日前宣布推出為其DSA8300取樣示波器全新的光學模組。此模組具有業界最高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊，並配備了全新功能，可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量。太克同時還推出了其400G測試解決方案的增強功能，包括IEEE乙太網路標準驅動的發射器和分散眼閉鎖(TDECQ)PAM4，以及針對光學測試的相關支援量測。
太克高效能示波器總經理Brian Reich表示，隨著100G設計投入生產，製造產量就變得至關重要。該公司最低的固有雜訊可讓使用者對測試結果更有信心，從而提升光學組件和互聯設備的製造產量。在此同時該公司也利用全方位的工具和功能，在新一代資料傳輸中提供深入的分析和有效的除錯功能，持續400G的發展趨勢。
太克於加州洛杉磯所舉行的OFC 光學網路和通訊研討會展覽上，展示了全新的模組和功能，以及全套Tektronix 100G/400G光學特性分析和驗證解決方案。
當安裝在DSA8300取樣示波器中時，全新的80C17和80C18光學模組可提供 -14dBm的遮蔽測試靈敏度，超過28GBd PAM4標準的要求，同時提供業界最佳的3.9 µW雜訊效能，並具有廣泛的波長支援。雙通道80C18可讓光學製造測試工程師能加倍提升傳輸量和容量。若裝置故障，該公司能提供分析工具來分解雜訊和抖動的訊號內容，以協助工程師了解潛在的問題。
