安捷倫光學調變分析儀新增誤碼率分析功能

2009 年 10 月 07 日

安捷倫(Agilent)推出在光學調變分析儀中加入誤碼率(BER)功能。在數位傳輸領域中,工程師須深入分析發射器或鏈路之誤碼率,以確保40/100G系統之最佳傳輸品質。然而,目前用於開關鍵控(On-off Keying)調變的測試儀器,因缺乏合適的接收器來偵測這類訊號,故無法量測先進調變格式的誤碼率。
 



安捷倫強調其光學調變分析儀整合了必要的接收器,可計數錯誤,並可即時透過偵測資料計算BER,或是在大量樣本擷取樣式中進行計算。可用假性隨機位元序列(PRBS),或是使用者自訂模式,當作測試訊號。如果工程師僅只量測從發射器輸入端到接收器輸出端,這一段光纖鏈路的電子BER,一旦出現BER問題而導致測試失敗時,便無法確定到底是發射器、鏈路本身,或是接收器出了問題。當發射器與系統之設計工程師及品質工程師能夠確實量測實體層訊號之BER,便可深入洞察是傳輸系統的那一部份導致了BER問題。
 



台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,光學調變分析儀提供一個高度彈性的統包 (Turn-key)測試解決方案,可作為根據先進調變模式來開發並描述 40G/100G 傳輸系統特性的參考系統。在加入了BER測試功能後,可進一步滿足傳輸系統與元件供應商的科學家、開發工程師和品質工程師的需求,並且彌補了光學調變測試的另一缺口。全新BER 測試功能與安捷倫各種調變格式相容,並可搭配使用安捷倫獨特的極化比對演算法,以支援極化多工信號量測。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

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