安捷倫AFR選項快速修正測試夾具誤差

2014 年 05 月 26 日

安捷倫(Agilent)推出新型自動測試夾具移除(AFR)選項。該選項適用於PNA系列網路分析儀,並且具備過去只有安捷倫實體層測試系統(PLTS)軟體才提供的誤差修正技術,讓工程師能用更快、更簡單的方法,精準執行非同軸元件量測,進而節省可觀的時間和金錢。


台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,新的AFR選項具有足以媲美機板上TRL(Thru-Reflect-Line)校驗的準確度,而且更方便易用。對於從未使用過AFR的微波工程師而言,他們毋須進行複雜的電磁(EM)模擬,或建構機板校驗套件,便可準確測試夾具效應進行修正;而對已經相當熟悉AFR的訊號完整性工程師,則可利用單埠功能,節省大量的量測時間。


適用於PNA的新型AFR選項,讓工程師能更快速、準確地移除非同軸元件量測結果中,測試夾具所導致的誤差;而方便易用的五步驟指引精靈,則可快速引導工程師完成必要的操作。此外,工程師可將解嵌入檔儲存為各種不同的格式,以便將來用於PNA、PLTS和先進設計系統(ADS)軟體。


安捷倫網址:www.agilent.com

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