專訪美商國家儀器資深銷售副總裁Pete Zogas PXI儀器躍居半導體測試標準平台

作者: 林苑卿
2014 年 08 月 07 日
PXI架構儀器將逐漸成為半導體測試的主流平台。值此系統單晶片(SoC)與SOM(System on Module)方興未艾之際,傳統高階自動測試設備(ATE)正面臨要迅速增添更多功能在單一機台的挑戰,遂讓更具功能設計彈性的PXI模組化儀器有機會在半導體測試市場嶄露頭角,從輔助晉升為核心測試儀器方案。
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