新科金朋採購惠瑞捷多套Port Scale射頻測試解決方案

2008 年 07 月 08 日

半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy)宣布,新加坡半導體封測業者新科金朋 (STATS ChipPAC) 採購多套Port Scale射頻 (RF) 測試解決方案,以測試高整合度的無線射頻元件。在技術不斷更新、無線通訊標準更加普及、及上市時間愈來愈短等因素催化,市場對功能的需求更高,高整合度的元件也就應運而生。惠瑞捷在品質、交貨準時、技術、服務、彈性和價格競爭力方面表現優異,為新科金朋及其客戶提供較為良好的服務與系統性能,因而榮獲新科金朋頒發「總體傑出服務獎」。
 



新科金朋為半導體封測服務供應商,可提供全套的解決方案與測試機台,以解決和支援客戶生產新一代行動通訊用消費性電子產品內含的高整合度元件的需求。Port Scale射頻測試解決方案可為整合元件 (內含射頻、混合信號、數位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路),提供高效率的多元件 (Multi-site) 測試能力以及所需的測試埠數。
 



新科金朋執行副總裁暨營運長Wan Choong Hoe表示,惠瑞捷提供的Port Scale射頻測試解決方案可以協助新科金朋滿足客戶目前及未來快速試產及量產先進射頻元件的需求。惠瑞捷業務與服務支援副總裁Pascal Ronde也指出,安裝Port Scale射頻測試系統後,新科金朋將可在此不斷成長的市場中,掌握領先的地位。
 



新科金朋網址:www.statschippac.com


惠瑞捷網址:www.verigy.com

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