是德科技(Keysight Technologies)日前宣布中國賽寶實驗室(CEPREI Laboratory)採用Keysight EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀(A-LFNA)進行閃變雜訊(1/f雜訊)和隨機電報雜訊(RTN)的量測與分析，以增進半導體元件(包括MOSFET、HEMT和TFT等)可靠性研究。
Keysight EEsof EDA元件建模產品經理馬龍表示，低頻雜訊是半導體材料和製程中一個敏感且重要的指標，目前已廣泛用於可靠性、新材料和新型元件研究。該公司致力於強化與賽寶實驗室等各家全球研究機構及大專院校的合作，以便鼎力支援相關研究工作。
Keysight EDA的E4727A高效能型低頻雜訊分析儀可進行快速、準確且可重複的低頻雜訊(LFN)量測。該產品支援閃變雜訊和隨機電報雜訊的晶圓映射量測和資料分析，並提供可重複和可靠的量測結果，適用於半導體材料和積體電路製程的開發、驗證和監測。
賽寶實驗室資深工程師劉遠指出，E4727A解決方案能確保在低系統雜訊下的精確量測，並且擁有業界較寬的頻率和偏壓量測範圍，可支援該單位各類元件與應用的研究。該單位期待與是德科技在校驗方法和標準化方面展開更進一步的合作。
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