是德功率元件分析儀新增測試功能

2015 年 04 月 10 日

是德(Keysight Technologies)為旗下功率元件分析儀/曲線追蹤儀–B1505A推出多項新的增強特性,使其成為業界唯一可量測晶圓上(On-Wafer)和封裝元件的所有關鍵參數解決方案,以加速推動現代半導體功率元件的開發。


台灣是德科技總經理張志銘表示,可靠性和能源轉換效率已成了現代功率元件的首要特性,但開發這些元件時,工程師必須能在各種操作條件下,全面量測多元特性,並充分評估閘極電荷(Qg)、閘極電阻(Rg)和元件電容等參數,而B1505A新增的各項特性,使其具備輕鬆準確執行前述量測所需的功能,為功率元件測試樹立新標準。


事實上,高效率的元件開發有賴於對晶圓上和封裝元件的各種新特性進行徹底評估,並與傳統元件特性加以比較,這些特性包括閘極電荷、元件電容(輸入電容、輸出電容和逆向轉換電容)及閘極電阻,因此,工程師必須在實際運作狀況下,分析元件之低溫或高溫特性。


新的增強特性可供執行晶圓上和封裝元件量測與特性分析所需的完整功能,其自動化熱溫測試功能可與熱管理設備同步運作,支援-50~+250°C操作溫度範圍;另外,新量測功能則針對高壓偏壓元件提供自動化電容和閘極電阻量測。


是德科技網址:www.keysight.com

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