量測儀器化整為零

簡化半導體測試作業 PXI模組小兵立大功

作者: 小樵
2010 年 10 月 28 日
半導體製程技術日新月異,對於測試系統速度、成本與彈性要求更加嚴苛,遂使PXI模組化儀器應運而生,其透過簡化半導體測試系統,同時兼顧成本與效能,在半導體測試產業界已蔚為風潮。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

結合多工與資料擷取器 萬用電表助力電性測試

2012 年 01 月 09 日

軟/硬體功能有彈性 模組化儀控擴展ATE應用

2012 年 01 月 16 日

T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試

2012 年 06 月 25 日

缺乏EDA工具支援 3D IC設計進展牛步

2010 年 01 月 18 日

與ATE業者攜手 NI PXI專攻半導體測試

2010 年 03 月 25 日

如何打造Source/Sink雙向雙輸出電壓軌?

2023 年 05 月 30 日
前一篇
綠能管理聲浪高 北美產研界展開全球布局
下一篇
瑞薩電子強化中國銷售結構