蔚華/南方聯手推出非破壞性SiC晶圓檢測方案

作者: 黃繼寬
2023 年 11 月 28 日
半導體測試解決方案供應商蔚華科技與旗下數位光學品牌南方科技,近日共同推出JadeSiC-NK非破壞性缺陷檢測系統。該檢測系統是專為碳化矽晶圓的缺陷檢測而設計,可協助碳化矽晶圓供應商跟使用碳化矽材料製造元件的業者實現100%檢測,不僅能節省碳化矽晶圓的成本,還可協助基板跟元件製造商實現更全面的製程分析與控制,進而提高產品良率。...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

商用進展邁大步 SiC功率半導體前景看俏

2011 年 04 月 26 日

加強RF/功率半導體布局力道 Cree出售照明業務

2019 年 04 月 03 日

UnitedSiC第四代SiC元件添新品 750V方案或成後起之秀

2021 年 10 月 07 日

意法/A*STAR IME投入碳化矽研發 聚焦新加坡電動車與工業

2021 年 11 月 30 日

擴大寬能隙元件產能 英飛凌加碼投資馬來西亞前段廠

2022 年 02 月 23 日

確保碳化矽晶圓供應 英飛凌再簽兩家新供應商

2023 年 05 月 05 日
前一篇
歐特明推出視覺AI大型車主動預警輔助系統
下一篇
Tektronix推出開放原始碼Python原始驅動程式套件