「資料擷取技術-應變量測與資料記錄器實作」研討會即將展開

2006 年 01 月 27 日

資料擷取是工業量測與監控的基礎,隨著產業自動化腳步的加快,市場對於品質要求大幅提升,產品各階段的測試也隨之而生。在面對效能與產出日益嚴苛的要求,如何有效地整合企業內部量測設備,完成所需的繁雜測試與監控工作,便成為工程師們的最大挑戰。
 

美商國家儀器(National Instruments, NI)與巨克富科技(Chief Technology)於2006年2月14日(二)假新竹科技生活館舉行「資料擷取技術-應變量測與資料記錄器實作」研討會,從基礎教您如何輕鬆完成資料擷取技巧、現場實務演練、實際案例展示等技術交流,滿足您在工作上的需求。
 

會中將介紹如何利用圖控開發工具LabVIEW輕鬆地完成基本的資料擷取工作、巨克富科技更從實務的角度介紹如何處理IC電子產業經常面臨的應變量測需求,更將以實際案例展示PCB主機板的應變量測。會中更將進一步說明如何將資料擷取功能,延伸成為一個可以「長時間收錄各種不同訊號」的資料記錄器,彈性因應實際工作時可能面臨的不同量測狀況需求。
 

國家儀器網址:www.ni.com/taiwan
 

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