介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

擴展海外市場 PV模組認證作業不可不慎

2010 年 01 月 11 日

混合訊號FPGA提高變速馬達節能效果

2010 年 01 月 18 日

促進能源管理系統整合 EICF技術規範制定刻不容緩

2015 年 12 月 24 日

落實故障測試及失效定位 IPM可靠性挑戰迎刃解

2019 年 02 月 26 日

提升切換式電源供應器效率 SiC無縫切入高電壓應用

2021 年 09 月 12 日

為工業4.0建構完整零件供應鏈

2022 年 05 月 20 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器