勀傑12/9舉行SEM分析技術與應用研討會

2022 年 12 月 06 日

2022年12月09日在高雄中山大學,勀傑科技將聯手國立中山大學材料與光電科學學系、卡爾蔡司帶來SEM微觀力量的知識聖堂。從落地式SEM到近年來越來越夯的桌上型SEM,帶領與會者全面瞭解如何應用掃描式電子顯微鏡獲得高品質的電子成像,並提升研究研發成果。

該研討會將由多位深耕於SEM領域之教授、學者,一同與學員探討多種材料的分析應用,像是金屬顆粒、半導體材料、軟物質與奈米材料。勀傑同時也邀請到Thermo Fisher Scientific原廠講師Jeroen Smulders,分享最新的Phenom桌上型掃描式電子顯微鏡之Particle顆粒檢測技術。

Phenom XL G2 Desktop SEM更是首度於高雄實機展出,如同XL型號名稱,針對較大型樣品及大量樣品檢測而開發的專門機型,最多可放置36個樣品載台,搭配獨家的進階編寫軟體(PPI)所開發出來的「自動化檢測分析功能」,大量縮短了SEM檢測所需的冗長重複性時間。

實體研討會時間為2022/12/09(五)09:45~16:30,於高雄國立中山大學雷科國際會議廳舉行,可於勀傑官網線上免費報名。

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