吉時利高成本效益元件測試方案出爐

2008 年 12 月 17 日

吉時利(Keithley)發表ACS Basic Edition及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃描軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大吉時利的自動化特性分析套件(ACS)陣容,搭配業界最完備的電源量測單元(SMU),也就是該公司的SourceMeter系列產品,可取代老舊的曲線掃描儀器,透過單一解決方案執行基本的曲線掃描及參數測試,並將成本壓至極低的水準。 
 



該公司2007年首先推出其ACS整合測試系統,提供獨特的量測功能及強大靈活的自動導向軟體,能滿足元件、晶圓或晶舟層級的半導體特性分析需求。初期的ACS系統是針對大型晶圓探針台以及規模較大的晶圓測試應用所設計;而ACS Basic Edition鎖定桌上型的元件測試應用,這類應用雖不需整合式探針設備,但仍需要ACS平台提供的量測與軟體自動化功能。
 



ACS Basic Edition提供一套龐大的資料庫,內含許多預設的元件測試程序,可縮短啟動時間、減少程式碼的撰寫且簡化測試流程。ACS Basic Edition結合了簡單易用的曲線掃描儀及參數分析儀的分析功能,任何人都可透過ACS Basic Edition輕鬆對一個半導體元件進行測試,並立即進行特性分析曲線與參考曲線的比較。
 



吉時利網址:www.keithley.com.tw

標籤
相關文章

凌力爾特雙組輸出2相位/同步控制器

2006 年 10 月 24 日

德州儀器DC-DC轉換器採Eco-mode技術

2008 年 11 月 12 日

ST2010年第一季財報淨利潤達5700萬美元

2010 年 04 月 28 日

凌力爾特15.5分貝增益模塊採用SiGe製程

2012 年 09 月 25 日

西門子將展出創新軟體解決方案

2017 年 08 月 28 日

新思提升台積電N3E製程的設計

2022 年 11 月 17 日
前一篇
太克高效能邏輯分析儀模組問世
下一篇
凌力爾特12/10/8位元八組DAC問世