太克(Tektronix)宣布在直接合成(DS)應用方面的重要進展，該項技術可供高速串列接收器進行相容性測試，是一彈性穩定之方法，可建立理想或畸變波形，接著再由該公司 AWG7000任意波形產生器直接合成。這可進行高速串列資料接收器精確一致的測試，進而生產出更高品質的運算與消費性電子裝置。AWG7000的直接合成已被 SATA Interop Workshop(IW)核准為標準的測試技術，並於SATA-IO Interop Workshop，套用至尋求 SATA IW認證的產品上。
隨著資料傳送速率的持續增加，時序邊緣的減少，迫使業界採用更加嚴苛與全面性的測試方法。測試範圍最後的範疇之一是接收器測試。此一測試的複雜性向來是主要的挑戰，而取得高速 NRZ 產生器間的一致設定，並具備所需的標準組織規格要求畸變等級，對於成功部署這些測試實作而言，是重大的障礙。使用外部的符號間干擾產生硬體，搭配混合弦波項的微波，會產生難以任意無誤重現的實驗室設定。AWG700的直接合成功能，可進行穩定一致的串列資料量測，針對高速串列資料接收器相容性測試，提供簡易性、彈性與速度。
太克表示，設計師幾乎只能完全仰賴數位資料產生器來產生供串列測試所需的二進位訊號。這些測試複雜昂貴，且可能會產生不一致的結果。而在信號源領域中以 AWG7000 直接合成功能處理過的新訊號，可改善這種情況。該合成器的直接合成功能，可讓工程師透過傳輸線產生傳播效應的訊號。上升時間、脈衝形狀、延遲與偏差都可受到控制，這正是進行串列匯流排測試所需。
在針對高速串列資料測試，發展和部署完整的直接合成技術方面，工程師只要叫出包含所有相關標準、要求抖動項目與訊號畸變的設定檔案，無需任何其他外部元件或所需的混合元件。AWG設定檔部署，可透過檔案的電子流通來進行管理，讓系統可同步化而具備共同一致的一般屬性，無須額外的硬體。
單一 AWG7000 式系統所涵蓋範圍的多用途與廣度，可針對各種廣泛的技術或標準，只要按鈕即可進行設計與相容性測試。具備 10 位元的垂直精確度與 20GS/s的取樣率，可進行任何形式的複雜訊號產生。從複雜的均衡計畫、多重等級的發訊與預先加強、能以從零延續進行掃描 ISI，到進行具數位精確度的多重 單位訊號時間(UI) 抖動，提供使用者高度測試彈性。
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