安捷倫(Agilent)宣布旗下的Agilent Medalist i3070系列5內電路測試(ICT)解決方案，在4月底的2010年上海Nepcon貿易展中獲得兩項技術大獎。這些獎項旨在表彰產品的創新和可靠性，及對改善現今成熟的表面黏著技術(SMT)製造環境中的產品品質所做的貢獻。
Agilent i3070系列5是安捷倫最新的內電路測試儀器，其創新特色包括可維持高相容性，並提供更快的測試速度等額外功能。新的安捷倫公用程式卡(Agilent Utility Card)可讓使用者經由插入式電子來加入自訂功能，使其發揮最大的效益。該系統還提供更廣泛且更彈性的電源管理能力，並可讓仍在使用舊款Agilent 3070和Agilent Medalist i3070內電路測試儀器的使用者進行升級。
安捷倫的內電路測試解決方案，可讓客戶達到最高的瑕疵偵測率，從而生產出高品質的產品。該公司最新的Agilent Medalist i3070系列5和Agilent Medalist i1000D內電路測試儀器，對需要快速且可靠地執行各種電路板的內電路測試的PCBA製造商來說是很理想的工具，尤其是接觸受限的電路板。
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示，很榮幸獲得SMT China和EM Asia創新獎。客戶的電路板測試需求，以及我們在下一個挑戰出現之前預做準備和不斷創新的決心，是促進內電路測試技術持續發展的關鍵。
Agilent i3070系列5在Nepcon貿易展中被提名為第四屆SMT China遠見獎及2010年EM Asia創新獎測試類獲勝者。此外，Agilent i3070系列5還入圍2009年EDN創新獎，以及2010年Test and Measurement World最佳測試產品獎決賽名單。
安捷倫網址：www.agilent.com
