安捷倫射頻量測技術研討會將於3/20登場

2013 年 03 月 12 日

安捷倫(Agilent)2013年度射頻量測技術研討會將於2013年3月20日與21日,分別於新竹交通大學電子資訊研究大樓及台北富邦國際會議中心舉辦,會中將安排最新的四大主題與五項應用展示。
 



講題內容包括最新無線捷變與偶發訊號的即時量測與觸發分析、干擾訊號分析與頻譜監測、射頻/微波量測的不確定,以及訊號產生器最新應用測試等議題,深入淺出地分享最新即時訊號分析與觸發功能、干擾訊號分析與頻譜監測工具、有效降低量測的不確定性及訊號產生器最新應用測試。透過最新的量測工具,協助客戶快速、有效的找到問題癥結,進而加速開發時程。
 



該次射頻量測技術研討會實機展示,安排有最新即時訊號量測與頻譜觸發、PXI射頻量測模組解決方案、最新射頻訊號測試設備、手持式射頻/微波分析儀測試設備等。
 



安捷倫網址:www.agilent.com.tw

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