安捷倫(Agilent)將於6月2～7日在美國西雅圖的華盛頓州會議中心登場的IEEE MTT-S國際微波研討會中，展示旗下二十五款最新的設計和量測解決方案。同時，Agilent X系列信號分析儀之硬體控制軟體首席架構師Gordon Strachan，也將於6月5日上午11點10分，在MicroApps館發表演講，主題為《現代射頻量測以及它們如何推動頻譜分析儀數位中頻處理器的發展與設計》。
此次安捷倫將展出從電路級建模到系統驗證等各式解決方案，為一般射頻、微波、4G通訊，以及航太/國防應用，提供最全面的量測支援。主要展示產品包括設計軟體Agilent EEsof EDA 解決方案，可協助工程師克服重大的RFIC設計挑戰。這些解決方案包括ADS 2013，支援多種技術(Multi Technology)和電熱(Electro-
thermal)量測；EMPro，具有多項整合入ADS設計平台的3-D EM模擬技術；以及SystemVue 2013，具備適用於衛星通訊/全球衛星導航系統(GNSS)、雷達、4G/MSR、DPD和FPGA硬體迴路的設計專用軟體。
網路分析–安捷倫測試解決方案讓工程師透過單一連結，即可同時連接多個HDMI和WiGig元件，以便加速進行量測。該毫米波解決方案採用PNA-X網路分析儀，可經由一個鏈路連接待測元件，以便描述發射/接收系統的特性。
Agilent 8507xE.07系列軟體可以輕易量測電磁材料的特性。新的直覺式操作介面增加了更多條軌跡、多個圖表、先進的軌跡數學運算和標記功能，讓使用者能以前所未見的簡易方式，分析大量的資料。
Agilent FieldFox手持式分析儀提供遠端式控制功能和新的Remote Viewer iOS應用程式，方便使用者透過iPad或iPhone進行精確的射頻和微波量測。此外，為協助工程師有效測試雷達系統之脈衝特性，FieldFox特別新增了頻譜分析時閘(Time-gating)選項，以及USB峰值功率感測器支援。
安捷倫網址：www.agilent.com
