安捷倫(Agilent)將於6月7～9日在美國巴爾的摩會議中心登場的2011年IEEE MTT-S國際微波研討會(IMS)中，展示旗下適用於先進射頻與微波研發及製造的最新設計與測試產品。
台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理張志銘表示，安捷倫的設計與測試解決方案，為工程師提供在促進射頻、微波和毫米波電子的研發與設計上所需的各種工具，已超過65年的時間。在IMS 2011中，更將展示為現今最先進的應用所打造的尖端解決方案。
張志銘進一步指出，此次安捷倫將展示的產品包括SystemVue設計平台、最新的突破性X參數技術–高頻設計適用的新的非線性網路參數，複雜、隨時間改變的信號之波形分析與特性描述工具、寬頻訊號產生與分析解決方案、頻率最高可到50 GHz的毫米波訊號分析解決方案(外部混頻可涵蓋325GHz以上的頻率)、非線性行為分析解決方案、先進長程演進計畫(LTE-Advanced)實體層測試解決方案、適用於超高速互連分析的十六埠，67GHz VNA解決方案、射頻與微波現場測試解決方案、低電壓掃描式電子顯微鏡等。
安捷倫在IMS 2011所展示的產品技術，加上其銷售夥伴所提供的解決方案，為出席貴賓提供了最創新的模型建立和元件特性描述、半導體晶圓代工、晶圓測試、電路板量測、原型製作工具、天線量測、系統、測試箱及客製化ATE解決方案。此外，安捷倫還將於活動期間舉辦多場技術計畫和研習營，並參與MicroApps非線性特性描述專家論壇。
安捷倫網址：www.agilent.com
