安捷倫(Agilent)發表數位通訊分析儀(DCA-J)用相位雜訊應用軟體與選項。新軟體可就50 M～13.5 Gbti/s的動態範圍內之時脈和資料訊號，執行相位雜訊/頻譜抖動分析，新款Agilent 83496B光學/電子模組可提供光學發射器測試與40Gbit/s光學相容性測試，振幅分析選項則為光學調變振幅和相對強度雜訊提供了新的分析方法。
多重速率寬迴路頻寬(Wide Loop Bandwidth)時脈回復模組提供以各種訊號，包括設定時脈之擴頻訊號，執行精確的波形量測之能力。許多序列匯流排結構都採擴頻時脈以達到較佳的訊號完整性，此被稱為電磁干擾(EMI)管理，取樣示波器的硬體時脈回復元件無法處理擴頻時脈所產生的大量抖動，要執行有意義的量測根本不可能，而 83496B可克服上述問題。
Agilent 83496B和相位雜訊應用軟體可經由頻域分析來顯示抖動的原因，為偵測抖動源有效而容易的方法，這個解決方案也能用來分析時脈和資料訊號，以建立資料抖動原因與系統時脈間的關聯性。
此外，DCA-J還針對光學應用提供新功能，包括40Gb/s相容性測試，86116C可當作65GHz示波器通道或切換到參考接收器，以執行 40Gb/s光學發射器眼圖模板(Eye-mask)測試，頻率響應使其能夠如參考接收器般的運作，並提供一致而準確的眼圖模板測試，並可依OC- 768、STM-256和相關規格，以標準或FEC速率來設定。
如DCA-J抖動分析，DCA-J選項300提供振幅域(Amplitude Domain)分析，此軟體具備如相對強度雜訊(Relative Intensity Noise, RIN)量測等能力，其為光學發射器常見的一項規格，RIN量測原需用到昂貴或複雜的測試儀器，透過這個軟體，便可使用相同的設備迅速又準確完成眼圖模板測試與RIN量測，選項300也能分離干擾參數到極低的可能性，以準確量測常被用來估算誤碼率之Q係數。
86100C DCA-J 7.0版軔體藉以新方法量測光學發射器的光學調變振幅(Optical Modulation Amplitude, OMA)規格達到強化系統目的，一般OMA測試需特殊的資料碼型，86100C可為這些碼型，甚至所有的資料碼型，提供準確OMA結果，此彈性省去重新設定激發的麻煩，在進行完整的收發器特性描述時可節省量測時間。
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