安捷倫發表PLTS 4.0訊號分析測試系統

2007 年 05 月 17 日

安捷倫(Agilent)發表訊號完整性測試解決方案新版本實體層測試系統PLTS4.0。該系統校驗、量測與分析平台新增多埠分析功能,適合從事高速數位設計,及必須處理印刷電路板、接線、IC封裝和背板之微波傳輸線效應的訊號完整性工程師使用。安捷倫同時發表PLTS平台的分析專用軟體PLTS Studio,以協助工程人員就Touchstone檔進行測後分析。
 

有鑑於現今不斷改變的數位驗證需求,該系統簡化高速背板中的多個干擾差動串音量測後,此平台可輕易轉取12埠S參數資料,並迅速找出串音問題的實體位置。該元件配置圖從n埠資料集以管理大量S參數檔,並依埠名整理這些檔案。只有4埠資料時,該工具檔案轉取功能會自動建立較大的Touchstone模型,如此不須浪費時間編寫自訂的轉取軟體,或以手動方式剪貼Touchstone資料。使用該電子校驗模組,大約只費8分鐘就能完成12埠VNA的短路-開路- 負載-穿透(Short-Open-Load-Thru)校驗。
 

該系統還可讓時域、頻域和眼圖分析與所有工具產生高度相關性,因而可取代三、四種不同的工具。另外,其眼圖分析係透過新的使用者可程控虛擬碼型產生器來執行。該系統已直接在軟體環境中內建一個虛擬的碼型產生器,工程人員不須購買昂貴的偽隨機二進位序列產生器。為確保達到最佳的準確度,眼圖結果須與其他的電子量測設備產生關聯,使工程人員能夠輕易且快速地找出及修正串音問題。
 

用於該系統資料分析的PLTS Studio軟體,以其分析工具來簡化訊號完整性特性描述之設計理念,該
 

軟體具備多埠分析增強功能,以分析引擎提供之資訊,可協助工程人員更快地修正訊號完整性問題。
 

安捷倫網址:www.agilent.com
 

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