安捷倫(Agilent)推出EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀。這套結合硬體和軟體的下一代雜訊分析系統，可量測並分析閃爍雜訊(Flicker Noise)和隨機電報雜訊(RTN)。
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示，安捷倫將創新量測演算法納入E4727A分析儀中，提供業界更快的量測速度，並且大幅提高客戶投資報酬率。
閃爍雜訊一向被視為重要的電子元件特性，對於主動混頻器、壓控振盪器、分頻器、運算放大器和比較器的效能有顯著影響，而這些元件正是射頻(RF)、類比/混合(Analog/Mixed)訊號，及高速有線通訊應用的基礎建構要件。閃爍雜訊和RTN也是半導體材料與製程的敏感指標。隨半導體技術不斷推陳出新，業界更迫切須要對低頻雜訊進行量測。
新的先進低頻雜訊分析儀是為了因應新挑戰而設計，其獨特的模組化設計有助於降低系統雜訊，並超低頻率下提供各項量測功能，提供市場理想的高電壓/高電流處理能力。
安捷倫網址：www.agilent.com
