安捷倫InfiniiMode優化差動測試探棒設計

2012 年 08 月 27 日

安捷倫(Agilent)推出一款InfiniiMode差動測試探棒,這些新一代低價的1.5GHz、3.5GHz和6GHz差動主動式探棒可用於通用、高速的差動探量應用;新的測試探棒特別適合用於數位系統的設計、元件的設計/特性描述,以及差動串列匯流排的量測。
 



使用高頻寬示波器的工程師,通常都會選用差動主動式測試探棒來量測高速訊號,但這些探棒無法輕易地顯示組成差動訊號的個別成分。隨著資料訊號的速度不斷提升,工程師對於能執行快速、準確的量測的示波器探棒的需求就愈加迫切;傳統上,他們會使用多根測試探棒和多個示波器通道來查看不同的訊號成分,但這些方法易出錯又費時。
 



N2750A系列測試探棒採用新的InfiniiMode技術。InfiniiMode提供使用一根測試探棒來量測差動、單端和共模訊號的方便性,不須反覆連接探棒來改變連接,比起使用多根測試探棒來執行相同的量測,InfiniiMode不但可提升生產力,還可達到更高的準確度。
 



工程師可使用探棒內建的反應迅速的示波器控制鍵,輕易地控制最需要的示波器功能,這些測試探棒具備低輸入負載(200kΩ差動)、高動態範圍(10Vpp)、寬偏移範圍(±15V)和高共模斥拒比(在1MHz下>60dB),亦可用於各種類比訊號量測。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

標籤
相關文章

安捷倫推高頻寬光學波形分析解決方案

2011 年 07 月 26 日

安捷倫創新軟體優化示波器探量技術

2011 年 08 月 16 日

安捷倫LTE符合性測試方案獲TPAC認證

2011 年 10 月 25 日

安盟成立安捷倫儀器高速數位測試中心

2012 年 06 月 15 日

安捷倫SystemVue軟體加速初期無線設計驗證

2012 年 07 月 05 日

安捷倫發表精密型低雜訊電源設備

2012 年 11 月 07 日
前一篇
強化內部DC-DC控制 逆變器效能與安全性加分
下一篇
美普思MPU核心獲選ECD年度最佳創新產品