安捷倫MXG信號產生器滿足LTE測試需求

2010 年 11 月 04 日

安捷倫(Agilent)與研發機構Nomor Research GmbH日前推出使用安捷倫的MXG信號產生器,以產生真實的長程演進計畫(LTE)上行鏈路小區間(Inter-cell)干擾信號的簡單、經濟的方法。對驗證LTE系統效能的工程師而言,必須用到上行鏈路信號,而該產生器可滿足真實的蜂巢干擾信號環境需求,因此最符合成本效益。
 



安捷倫技術專家Moray Rumney表示,LTE系統的效能評估,必須在真實的干擾環境下執行。而測試的唯一方法為在鄰近的蜂窩小區中建置大量行動裝置,但該解決方案曠日費時且成本昂貴。有了此款新解決方案,便可在基地台建立一個近乎相同的模擬干擾環境,以代表鄰近小區中數百個行動裝置的合併干擾。
 



此外,Nomor Research技術長Eiko Seidel指出,新近標準化的正交LTE上行鏈路存取模式改變了上行鏈路干擾特性,使得傳統用來模擬干擾的高斯雜訊方法不再適用於實際的效能測試。唯有實際模擬小區間干擾,才能為基礎建設製造商和操作人員提供一個測試複雜的基地台排程演算法及量化LTE基地台設備的真實效能。
 



據了解,大部分參與全球LTE現場試驗活動的基礎建設廠商,目前已紛紛採用該款新測試解決方案,該解決方案除可適用於典型環境的一組預設干擾檔,也可搭配安捷倫的任一款MXG信號產生器使用,至於其他建置環境適用的延伸干擾檔和客製化參數設定則可因應客戶要求提供。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

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