安捷倫PNA-X選項提供50GHz雜訊指數量測

2010 年 05 月 27 日

安捷倫(Agilent)宣布推出PNA-X系列微波網路分析儀適用的選項028。配置選項028的PNA-X,是業界唯一一款可修正不完美的系統源端匹配效應的網路分析儀。該儀器使用向量錯誤修正法來移除不匹配錯誤,並使用Ecal模組作為阻抗調諧器,以去除雜訊參數所導致的錯誤。此校驗方法使PNA-X得以提供業界最高的雜訊指數量測準確度,尤其是在晶圓上、夾具內與自動化測試環境。
 



安捷倫的選項028採用PNA-X的標準S參數接收器和安捷倫獨家的源端修正技術,來執行高達50GHz的雜訊指數量測。當裝置的額外雜訊小於30分貝時,需使用外部前置放大器和濾波器。對高達26.5GHz的雜訊指數量測來說,選項H29則可為50GHz的PNA-X儀器提供內部低雜訊接收器。有了選項H29,就不必使用外部前置放大器和濾波器,而且在設定上就跟量測S參數時的設定一樣容易。
 



台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,新選項能以符合客戶預算和量測需求的最佳價格效能比,來提供最廣泛的雜訊指數量測解決方案。選項028的高準確度與PNA-X的單次連接、多次量測功能,可協助工程師提高測試速度及減少須使用的儀器數量,可讓測試系統,變得更簡單且更符合成本效益。
 



量測準確度對設計與測試放大器、轉換器,尤其是低雜訊放大器的工程師來說至關重要。在研發方面,量測準確度可確保發射/接收系統的最佳效能,並使電路的模擬與量測達到較高的相關性。在製造方面,量測準確度意謂可形成較小的防護頻帶(Guard Band),從而產生較佳的元件規格及生產出更具競爭力的產品。
 



PNA-X提供業界最廣泛的量測應用,範圍從射頻(RF)到毫米波。並為工程師提供只需連接一次待測裝置,即可執行S參數、增益壓縮、交互調變失真和雜訊指數等量測的彈性。傳統上,類似的工作皆須用到多台測試儀器。PNA-X的雜訊指數量測速度,通常比雜訊指數分析儀快四至十倍。當執行更廣泛的量測時,該儀器的整體測試速度會比傳統的多儀器系統快上一百倍。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

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