安捷倫(Agilent)宣布已將全球第一款完全整合的1.1THz網路分析量測解決方案交貨給日本山口大學(Yamaguchi University)。該解決方案對山口大學在從事兆赫(THz)頻率的超常材料(Metamaterials)研究上，扮演關鍵的角色。
電磁頻譜的THz範圍，在高資料速率通訊、先進電子材料光譜學、太空研究、醫療、生物、監管及遠端感測上，有極大的應用潛力。儘管如此，THz範圍在頻譜領域中仍尚未被深入探索。再者，高功率的THz訊號源在THz頻率範圍內，過於依賴具有有利特性的材料，因此材料研究遂成為最新的THz系統相當重要的一環。而安捷倫整合的量測解決方案足以解決該挑戰，其能準確量測新材料中的THz訊號，該資訊對於山口大學成功進行材料研究有極大的助益。
安捷倫的解決方案採用Virginia Diodes公司所生產的全球第一款完全校驗、750G～1.1THz的頻率延伸模組WR-01，以及安捷倫的高效能50GHz PNA-X向量網路分析儀。這些儀器以優於50dB的動態範圍，提供完全校驗的向量網路分析量測。另外，使用者首度可以利用PNA-X的校驗技術，來執行穩定可靠的THz量測，該儀器的動態範圍，可確保使用者輕易地達到高靈敏度的量測。由於頻率延伸模組提供750G～1.1 THz的頻率操作範圍，因此使用者在擷取較高解析度的影像時同樣輕而易舉。
Virginia Diodes執行長Thomas Crowe表示，Virginia Diodes的使命是要讓電磁頻譜的THz範圍，像今日的微波與紅外線頻帶一樣，對科學、軍事與商業應用有所貢獻。其所開發的WR-01延伸裝置實現該承諾，提供THz校驗的向量網路分析儀量測所需的優異動態範圍與頻寬。
台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理張志銘表示，與Virginia Diodes的密切合作，使安捷倫能夠將WR-01延伸裝置整合到PNA-X向量網路分析儀，進一步延伸儀器的功能，及執行快速又準確的THz量測。這項成果再次證明安捷倫持續開發創新的量測技術，提供可協助客戶居於領先地位所需的工具。安捷倫的PNA-X向量網路分析儀，提供從射頻到毫米波的業界最廣泛的量測應用範圍。有關PNA-X的詳細資訊，請瀏覽www.agilent.com/find/pna-x網站。而山口大學位於日本Ube市。針對材料在THz頻率下的特性進行分析，是該校科學與工程學院正在進行的研究的一部分。如需更詳細的資訊，請造訪www-ap.apsci.yamaguchi-u.ac.jp網站。
安捷倫網址：www.agilent.com
