安捷倫ZIF探棒頭支援協定層測試/PCI Express除錯

2009 年 10 月 23 日

安捷倫(Agilent)針對旗下的PCI Express(PCIe) 2.0 E2960B系列分析儀,推出使用零插力(ZIF)探棒頭的全新飛腳式(Flying Lead)探棒。新推出的ZIF飛腳式探棒採Agilent Infiniimax ZIF設計,讓設計工程師能夠使用相同的探測點進行實體層量測,並使用協定分析儀進行協定除錯。如此有助於在工程師無法確定問題是出自於實體層,或是因為協定互動所造成時,簡化疑難排除程序。全新的 ZIF 飛腳式探棒可同時支援 2.5GT/s和5.0GT/s PCI Express資料傳輸速率。
 




安捷倫科技推出支援協定層測試和PCI Express除錯的ZIF探棒頭。



台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,安捷倫提供支援實體層與協定層測試的完整工具,可節省客戶時間與成本。在 PCIe 2.0速度下,進行可靠的探量變得比以前更為重要。若未選用可靠的探量解決方案與合宜的探棒形式,將很難甚至不可能擷取到可靠的資料。安捷倫 ZIF 飛腳式探棒的設計支援可靠的訊號量測,並簡化了探量接觸方式。
 



此外,探棒的電容性負載極低,可以深入探量訊號的特性,不會影響所要監測的訊號;ZIF 探棒頭非常容易連接與卸下,可保護探棒連接器,並確保未來可重複使用。其針腳與探棒的長度更長,更容易接觸待測系統之探測點,而較長的ZIP探棒頭則便於接觸各種不同類型的探測點。
 



安捷倫網址:www.agilent.com

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