安立知將展出誤碼率測試解決方案

2016 年 09 月 21 日

安立知(Anritsu)將於9月19~21日,在德國舉行的2016年歐洲光通訊展(ECOC 2016)中展示誤碼率(BER)測試解決方案,該方案為MP1800A系列訊號品質分析儀的64 Gbaud4階脈衝振幅調變(PAM4)。


安立知將展示包括64 Gbaud PAM4數位類比轉換器(DAC)—G0374A,其可支援由下一代400GbE標準定義的53.125-Gbaud PAM4傳輸,以及產生高達64 Gbaud的高品質PAM4訊號。此外,該BER測試套件,具備高輸入靈敏度,可支援400GbE 53.125-Gbaud BER測試。


隨著資料傳輸流量的爆炸式增加,持續推動驗證伺服器與網路設備之間的通訊速度提升。下一代400Gb乙太網路(Ethernet)標準採用PAM調變方式,藉由提高符元率(Sybol Rate)以及增加更多通道,以增加每單位時間的資料轉換。


MP1800A系列訊號品質分析儀,支援裝置與光學模組的測試評估,符合最新的通訊標準,其具備多通道脈衝訊號產生器(PPG),與錯誤偵測器(ED)。還可以採用G0374A 64 Gbaud PAM4 DAC,與MP1862A 56G/64 Gbit/s解多工器(DEMUX)輕鬆地擴展,進一步支援高傳輸速率(baud-rate)的NRZ與PAM4方法以及BER測試。


此訊號品質分析儀,是一款插入式模組類型的誤碼率測試儀(BERT),利用32G多通道PPG模組,產生高達8通道的同步訊號。所展示的G0374A是專用於MP1800A系列的搭配套件,可結合MU183020A 32 Gbit/s Multichannel PPG 共同使用,藉由簡單地轉換半速率32-Gbit/s NRZ訊號,產生64-Gbaud NRZ/PAM4訊號。此外,結合MP1862A 56G/64 Gbit/s DEMUX與MU183040B 28G/32 Gbit/s高靈敏度 ED,可支援高傳輸速率PAM4訊號的BER測試。

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