安立知(Anritsu)宣布為旗下4G LTE-Advanced(LTE-A)訊令測試儀–MD8430A推出整合通道衰減模擬功能，新增的數位基頻衰減選項使該測試儀成為一款全功能的衰減模擬器，並支援業界標準3GPP定義的衰弱訊號規格。
新推出的通道衰減選項能夠與該測試儀有效結合，毋須因應實際的射頻(RF)條件投資額外的硬體來執行訊令測試。此為首款內建衰減功能的LTE-A訊令測試解決方案，可支援4×4 MIMO下行鏈路配置。
此外，該訊令測試儀藉由內部數位基頻處理，在測試執行期間應用多徑效應，而 Rapid Test Designer (RTD)軟體則為該測試儀提供了建立與執行衰減模擬測試的整合環境。同時可支援包括載波聚合(CA)與MIMO等LTE-A功能，且除了透過RF連線測試裝置以外，內建衰減選項的測試儀亦可支援慢速時脈數位介面，在開始生產昂貴的特定應用積體電路(ASIC)之前，可先在模擬的環境中驗證設計。
安立知網址：www.anritsu.com
