安立知(Anritsu)2014新一代高速串列電路與光通訊元件量測研討會將於12月9日及10日分別在台北及新竹舉行。會中將針對高速傳輸市場趨勢進行剖析，除分析既有100G市場概況外，亦將分享未來400GE與1T技術發展狀況，並進一步探討高速傳輸所遇到的訊號完整性問題、雲端世代關鍵–高速主動光元件技術的發展方向，以及被動元件的量測技巧。
新興雲端應用的蓬勃發展引領網路流量及傳輸介面速率大幅躍進，更帶動對資料中心(Data Center)的殷切需求，導致40/100G乙太網路(Ethernet)、InfiniBand增強型資料速率(EDR)(26Gbit/s)及32X光纖通道(Fiber Channel)等高速傳輸介面發展如火如荼，同時間，IEEE與ITU-T亦進入400G&1T相關規格的討論階段，象徵傳輸介面將全面邁入超高速傳輸時代。
面對大量資料處理需求所帶動的高速介面發展與設計測試的各項挑戰，該場研討會將針對雲端應用所帶動的相關高速傳輸規格與測試需求進行深入剖析，探討高速傳輸所面對的訊號完整性問題以及最新100Gbit/s抖動容限(Jitter Tolerance)測試架構解密。
會中將邀請中央大學電機工程學系教授許晉瑋介紹高速關鍵光元件技術，以及光纖零組件大廠光合訊科技(GIP)專案經理張瑋倫揭密Coupler、Splitter與EDFA等被動元件量測技巧。
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