宜特TEM材料分析技術突破10奈米

2015 年 07 月 16 日

宜特科技(iST)材料分析檢測技術已突破10奈米製程。該技術不僅協助客戶在先進製程產品上完成TEM分析與驗證,更獲積體電路失效分析論壇(IPFA)肯定,並於會議期間發表最新研究成果。


近年來企業為打造效能更高、功耗更低、體積更小的半導體元件,以滿足現今智慧產品之需求,各大廠在先進製程開發的腳步越來越快,已從去年20奈米製程,邁入今年的14奈米製程;其中包括台積電,英特爾,三星等大廠,更預計陸續於明年進入10奈米以下的量產階段,因此帶動整個供應鏈的TEM分析需求。


宜特繼去年布建TEM設備,聘僱多位博士級的TEM專家,如國內TEM權威博士鮑忠興,經過一整年研發,不僅產能大躍進,其檢測分析能量更從去年14奈米,向下突破至10奈米製程,更獲多間客戶如LED磊晶廠、半導體設備廠與晶圓代工廠肯定,下半年將持續擴產以因應客戶需求。


宜特科技網址:www.istgroup.com

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