射頻/半導體測試打前鋒 PXI儀器改朝換代

作者: 黃繼寬
2010 年 07 月 20 日

泛用於自動化測試、工業控制等領域的PXI儀器,隨著個人電腦(PC)所採用的主流介面已進入PCIe Gen2時代,也已開始朝向PXI Express升級。由於介面頻寬突飛猛進,使這類量測儀器已具備取代示波器、頻譜分析儀甚至半導體測試設備等高單價儀器的能力,更吸引相關儀器供應商開始加碼布局PXI Express。
 


目前PXI儀器普遍仍採用混合式設計,如圖中第三與第五個插槽便屬於可支援多種板卡模組的混合式插槽。





美商國家儀器(NI)行銷部技術工程師柯璟銘指出,隨著PC系統所使用的內部互聯介面升級至PCIe Gen2,向來隨著PC發展腳步的PXI儀器,其所使用的PXI介面也準備跟著升級。例如NI在今年下半年,便將推出多款採用新一代PXI Express的訊號擷取卡與射頻量測方案。因為目前市場上有許多客戶,對於高頻寬數位示波器、射頻(RF)量測的需求相當強勁,而這類量測對於系統內部互聯的頻寬要求極高,不僅傳統的PXI介面無力負擔,現有的PXI Express方案有時也會成為系統性能的瓶頸。
 



除了頻寬需求外,有些特殊應用對於通道數的要求特別高,例如晶圓測試等半導體相關測試應用,其感測節點可高達數百個以上。由於傳統PXI介面的頻寬必須由不同通道分享,因此對於這些高通道數的量測應用而言並不理想,也使得相關業者紛紛選用內建PXI Express的PXI儀器。
 



因此,柯璟銘認為,PXI儀器與相關量測板卡朝PXI Express發展,已是不可避免的趨勢。不過,由於PXI儀器除了上述量測應用外,同時也在工業控制、自動化生產等領域扮演重要角色,這些應用的設備生命週期相當長,因此短期內PXI介面的插槽仍會保持共用的設計理念,亦即利用單一插槽支援PXI、Compact PCI、PXI Express等不同介面的板卡,以保護客戶的投資。

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