專訪NI行動裝置業務部門副總裁David Loadman PXI儀器縮減物聯網測試成本

作者: 黃耀瑋
2015 年 06 月 11 日
新一代PXI無線測試系統(WTS)大幅推升行動、物聯網裝置產測效率。國家儀器(NI)發表支援多重標準、多樣待測裝置(DUT)/連接埠及高速平行測試的PXI無線測試系統,能滿足行動及物聯網設備製造商降低測試成本、提高生產效率的要求,包括高通創銳訊(Qualcomm...
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