惠瑞捷(Verigy)日前對某長期合作廠商出貨多套V93000 Port Scale射頻系統，以協助該廠商測試超低價手機用射頻單晶片(RF-SoC)。可利用四組元件同測能力與高效率的多元平行測試能力，以最小成本測試多達48個射頻測試埠。從低整合度射頻收發器的高產能測試，以及射頻混合訊號、數位、電源管理、嵌入式或堆疊式記憶體等先進元件的測試，皆可提供經濟有效的射頻測試應用。
市場研究機構 iSuppli指出，全球超低價手機的需求人口數約為16億，其中多數集中在中國大陸與印度等新興國家，這些國家有為數眾多的人口未曾購買過手機。iSuppli預估，2009～2013年間全球超低價手機市場將成長兩倍，達到2億台的規模。
惠瑞捷業務支援與服務副總裁Pascal Ronde表示，這家客戶目前已採用多套V93000 Port Scale射頻測試系統，在生產過程中測試射頻單晶片裝置。這套測試系統可在不同階段進行測試，並同時兼顧高速測試、準確度與效能，具彈性的平台架構可測試無線電接收器與其他關鍵元件，幫助使用者增加產量。
射頻晶片為手機、全球衛星定位系統(GPS)、調諧器等多項應用中的重要元件。射頻裝置市場對處理速度與尺寸的要求越來越高，促使半導體業界整合更多射頻功能，推出可支援全球行動通訊系統(GSM)/分碼多重存取(CDMA)、CDMA2000、增強型GSM數據傳輸(EDGE)、EDVO等多項通訊協定的單晶片，而要穩定地量產這些晶片，就要仰賴先進的IC測試性能，透過V93000 Port Scale射頻系統將能提供有效且經濟的射頻測試應用。
惠瑞捷網址：www.verigy.com
