愛德萬推出新款太赫茲波光學取樣系統

2014 年 04 月 24 日

愛德萬測試(Advantest)推出最新太赫茲波光學取樣系統TAS7400TS,可提供彈性架構,方便使用者自由配置太赫茲波源模組及偵測模組,打造理想的多功能環境。


新款光學取樣系統為低價多用途太赫茲波光譜分析系統TAS7400系列的最新產品,使用者可在平台上隨需求進行配置,利用光纖引線將太赫茲波源及偵測模組連結到主機,且不受限地加裝這些模組,任意調整量測區;此外,也可在量測環境中加入取樣加熱系統、低溫系統、自動化取樣處理等相關輔助裝置,幫助太赫茲波研究開發工作進行,進而開啟太赫茲波技術未來發展的新契機。


TAS7400TS平台可結合三種不同波源模組,這三種模組分別涵蓋不同波段,TAS1110量測頻率範圍為0.1~4THz(基本)、TAS1120量測頻率範圍為0.03~2THz(低頻)、TAS1130量測頻率範圍為0.5~7THz(寬頻)。這些模組也可在TAS7500TS平台上通用。


愛德萬測試網址:www.advantest.com

標籤
相關文章

愛德萬發表最新光聲顯微鏡Hadatomo Z

2019 年 02 月 22 日

愛德萬新記憶體測試機瞄準全球DDR/DRAM需求

2020 年 04 月 23 日

愛德萬虛擬VOICE 2021開發者大會即將登場

2021 年 06 月 17 日

愛德萬將於SEMICON展示最新科技

2019 年 09 月 11 日

愛德萬響應RE100全球再生能源倡議

2020 年 08 月 07 日

愛德萬V93000 SmarTest 8軟體通過ASPICE Level 2認證

2024 年 07 月 24 日
前一篇
HCE資安問題待解 NFC晶片商強推安全元件
下一篇
Altera攜手台積電打造Arria 10 FPGA/SoC