愛德萬新一代SoC測試分類機問世

2013 年 11 月 26 日

愛德萬測試推出最新一代系統單晶片(SoC)元件測試分類機–M4871,現有客戶將可就地升級。這款全新M4871分類機除承襲愛德萬測試原有技術優勢外,並提供最新先進功能,不僅具備以愛德萬測試獨有溫控(Tri-Temp)技術所開發的高產能主動式熱控目視調準功能,所有資料也採全新視覺化架構,使用者只要透過網路就能即時監控測試機台生產進度。


愛德萬測試工廠自動化事業部長Hiroki Ikeda表示,這款全新分類機完整整合系統單晶片所需的各種測試功能,隨著M4871的推出,愛德萬測試再次實現一直以來的承諾,提供最具成本效益、高性能、高彈性的測試解決方案,協助半導體業客戶完成測試。


為協助客戶提高測試良率、加快測試週期時間,新一代M4871分類機加入目視調準功能,其定位精確度可達低於0.3mm ball/pad pitch,最適合處理微細間距元件,以及同時具有頂部和底部接觸結構的半導體元件。這項精度調準功能亦有助於縮短設定與校正時間,產能也將隨之提升。


此外,在閒置時間方面,M4871也比過去縮短許多,有效測試作業時間1個月可多出20小時之多,這使得整體設備效能(OEE)和元件成本獲得大幅改善。舉例來說,由於M4871採用最新熱控技術「雙液設計」,卡料所造成的作業閒置只需耗費最短的清理時間;反觀其他採用反應室設計的分類機,從反應室冷卻、清理卡料,到恢復運作溫度,整個過程至少須耗費60分鐘以上。


愛德萬測試網址:www.advantest.com

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