愛德萬測試(Advantest)發表兩款最新通用型硬體設備—500MDM數位模組與DPS32A電源供應模組，擴充旗下T2000測試平台功能，涵蓋諸如系統單晶片(SoC)元件、電源管理IC、車用元件和CMOS影像感測器等各類應用，以因應日益成長的數位轉型市場。兩款新硬體皆能相容現有測試系統，如T2000 AiR平台輕巧的設計最能因應各類環境限制，從工程實驗室到量產製造現場都適用。
針對現今快速成長之行動電子市場而大量製造的半導體元件，皆強調低功率運行，務求延長電池續航力。而為了測試這些IC元件，不僅要能供應小電流和迅捷的處理速度的能力，還要能進行高精度的參數量測，以及具備高精度的輸出電壓源和夠深的掃描圖樣記憶體(Scan Pattern Memory)。
為了在T2000測試平台滿足上述需求，愛德萬測試推出最新128通道氣冷式500MDM數位模組，能處理資料傳輸速率達500Mbps的元件，除了擁有大32-Gbit掃描圖樣記憶體外，更為所有32 I/O通道設計專用的高效能參數量測單元，使T2000系統之電流容量進一步擴充至每I/O通道60毫安培(mA)。
搭配最新32毫安培DPS32A元件電源供應，能因應任何類型的消費性電子元件。升級後的系統可以有32個通道提供4伏特電壓/1安培電流的能力。其高解析度參數量測與持續採樣功能，能支援Delta-IDDQ量測與IDD頻譜量測等最新測試方法。此外，新系統具備量測低待機電流的能力，代表著與前代DPS500mA電源供應模組相較又更上層樓。
