愛德萬推出記憶體測試系統–T5833。新系統支援DRAM與NAND快閃記憶體元件的Wafer Sort及Final Test，可滿足低成本大量測試需求。
愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示，新測試系統既具有較佳效能，又兼顧客戶的低測試成本考量，這兩大優勢將有助於客戶獲致最大投資效益。
隨著行動電子產品銷售量攀升，主要搭載於智慧型手機及平板電腦的DRAM、NAND快閃記憶體與多晶片封裝記憶體 (MCP) ，正快速朝向提升速度與容量發展，此趨勢也同樣顯見於網路和雲端伺服器市場。然而，記憶體元件種類繁多，測試成本是一大負擔，因此晶片製造商極需一套具備高效能，並兼顧低測試成本的解決方案。
新產品具備大量並行同測能力，Wafer Sort達2,048個元件，Final Test達512個元件，縮減測試時間、提升產能，因此可達到降低測試成本之效益。除支援KGD測試達2.4Gbit/s外，也藉由彈性化的 CPU架構，以多CPU設計，使測試流程獲得最佳化控制。
該測試系統提供高速失效位置儲存分析功能與失效分析功能 ，是晶圓測試不可或缺的測試功能，其快速的執行速度將有助加快測試、修復更多IC並提升良率。此外，這兩項功能皆可依照需求加以調整，譬如增加CPU以提高運算速度。
愛德萬網址：www.advantest.com
