愛德萬測試推出用於V93000平台的Wave Scale系列通道卡，可提供無線通訊在測試射頻(RF)與混合信號IC時較佳的平行度與產能。全新的V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX卡，是為了提供高度平行多元件同測及元件內部平行測試所打造，能夠大幅縮減現有RF半導體的測試成本及上市時間，並且為未來5G裝置的測試開創新途。
全新的通道卡以射頻及無線通訊市場為目標，對於用來發展LTE、LTE-Advanced、LTE-A Pro等智慧型手機，以及LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、藍芽及物聯網應用相關的半導體元件，提供高效率的測試解決方案。這些新通道卡除了能夠因應今日的市場需求，同時也足以面對5G網路的技術變革。
傳統的射頻測試解決方案是針對射頻IC執行多元件測試，例如四元件或八元件同測，但是每次只能在每個元件上測試一項射頻標準。Wave Scale RF及相應的Wave Scale MX卡則能夠在每個射頻元件內，同時測試多個標準或路徑，藉由達到元件內部的平行度與極高的多元件同測效率，大幅降低複雜射頻裝置的測試成本。
Wave Scale RF卡有四組獨立的射頻子系統，個別具備訊號產生及頻率量測的設計，因此可同時測試LTE、GPS、藍芽、WLAN裝置。每個子系統分別有八個連接埠，可同時扇出射頻訊號，亦有高達四組獨立的量測工具。
愛德萬測試網址：www.advantest.com
