半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest)發表最新多功能、高產能H5620記憶體測試機，能針對低功耗雙存取同步動態隨機存取記憶體(DRAM和LPDDR)裝置進行預燒及記憶體單元測試。
愛德萬測試記憶體自動化測試設備事業群副總Takeo Miura表示，這款測試機兼顧優異生產力與低廉測試成本，為檢驗現今最新DRAM元件的測試標準樹立新標竿。
5G技術時代來臨，全球DRAM位元消耗預估將在2023年近乎翻倍，而此波需求成長背後的主要推手，正是持續成長的資料處理和行動通訊市場，不僅資料中心要求更多記憶體，智慧型手機解析度升級、新增摺疊功能和多鏡頭設計等也是原因。隨著記憶體IC平均售價持續縮水，半導體製造廠不可免的需要另闢蹊徑，縮減測試成本、擴大產量。
愛德萬測試最新測試系統，能夠滿足這樣的需求。H5620在生產環境中，能以100-MHz頻率和高達200Mbps的資料傳輸率，平行測試超過1.8萬個元件。此外，H5620能因應工廠自動化需求，還有具備個別熱控制穩定度的雙溫箱結構，支援從-10°C到150°C大溫度範圍測試。
不僅如此，新系統結合原有記憶體單元測試與記憶體生產設備的預燒測試流程，不僅有助客戶降低資本支出，也能節省工廠空間。
H5620使用具備多元工具組合的FutureSuite作業系統。有了這套軟體，測試機很容易能與愛德萬測試原本的記憶體測試系統相容。另外，愛德萬測試全球支援網也能立即提供客戶在程式編碼、除錯、關聯性分析和維修等方面的協助。
