愛德萬測試(Advantest)與PDF Solutions攜手合作，發表兩款創新雲端軟體解決方案：一是愛德萬測試V93000動態參數測試(Dynamic Parametric Test, DPT)系統，由PDF Exensio DPT提供技術支援；二是邊緣高效能運算(HPC)系統，兩者皆隸屬於最新發布之愛德萬測試雲端解決方案(Advantest Cloud Solutions, ACS)。該方案是提供以雲端為基礎的產品與服務之生態系，而其核心正是專注於資料與分析、由PDF Exensio提供技術支援的平台「愛德萬測試雲端」(Advantest Cloud)，也是由愛德萬測試與PDF Solutions共同開發。
借重PDF Solutions開發的核心科技，就能運用客戶工作流程中產生的資料，反過來對半導體從設計認證到製造、再到晶片組和系統級測試的各段流程提供回饋。如此一來，客戶便能從供應鏈、自家設備和測試資料汲取更多有價值的資料，並運用愛德萬測試雲端解決方案的先進演算法、整合性工作流程與方法，縮短達成高良率所需的時間、提高整體設備效率。
不論是關於先進製成節點、電子微縮(electrical scaling)、2.5D與3D封裝等半導體技術突破，還是關於系統方面出現的新焦點，於業者而言都是挑戰，唯有仰賴由軟體引導的全面性解決方案才能克服。若可以將遍布於傳統半導體價值鏈中的資料孤島給整合起來，必能大幅提升產品品質、製造良率以及成本效益。
由PDF Exensio DPT技術支援的愛德萬測試V93000動態參數測試系統，是愛德萬測試與PDF Solutions攜手開發，為V93000 SMU8參數測試平台新增以規則為本(rule-based)的智慧測試流程。有了這項科技，測試流程能在幾毫秒內即時自動最佳化，以擴大裸晶測試範圍、改善異常量測的特徵(characterization)、糾正設備問題和簡化額外資訊收集，支援根本原因驗證(root-cause identification)和下游分析(down-stream analytics)。
